名    稱：紫外可見分光光度計

型    號：T-UV759

品    牌：上海佑科

紫外可見分光光度計190-1100nm波長測試儀應用簡介：

T-UV759紫外分光光度計，以全新的光學系統(tǒng)與電子系統(tǒng)設計理念，精心打造出的新一代智能化儀器。有別于傳統(tǒng)的雙光束分光光度計，該儀器采用新型的不對稱分光技術，具有雙光束的高穩(wěn)定性，其主光束的高光通量，確保了儀器的高信號噪聲比。T-UV759CRT是一款高分辨率，地雜散光，液晶屏顯示的紫外可見分光光度計，可以滿足眾多領域的日常分析及科學研究的應用要求。

紫外可見分光光度計190-1100nm波長測試儀儀器特點:

1、采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統(tǒng)，使儀器光源切換更快速。
2、精確的2nm帶寬，使測試數(shù)據(jù)更準確。使用進口長壽命光源，減輕用戶耗材的消耗。
3、波長控制系統(tǒng)，使波長精度更高。改良的光學系統(tǒng)，使測試更準確。
4、采用進口的光電轉換器，使儀器的靈敏度更高。
5、新型的微電腦數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。使儀器的使用更加便捷，穩(wěn)定性也更好。
6、儀器采用128×64位點陣液晶顯示器，可直接顯示標準曲線和測試數(shù)據(jù)，主機可儲存測試數(shù)據(jù)，并可選配打印機。
7、儀器可選配圓盤旋轉式自動八連樣品架，可靠性好，光斑居中（相比雙排自動八聯(lián)架），從而儀器測光精度高。

T-UV759掃描型紫外可見分光光度計儀器參數(shù)：

波長范圍：190-1100nm 

波長準確度：±0.3nm

波長重復性：0.1nm

光譜帶寬：1.8nm

透射比準確度：±0.3%T

透射比重復性：0.1%T

光度范圍：-3~3A ，0-200%T，0~9999C

基線平直度：±0.001A/h

雜散光：0.05%T@220nm、360nm

穩(wěn)定性：±0.001A/小時 @500nm

Rs232通訊：USB接口

打印機：選配

分析軟件：支持

自動八聯(lián)比色池：選配

光學系統(tǒng)：雙光束比例監(jiān)測

噪聲水平：±0.001A/2min@500nm