名  稱：薄膜固體測(cè)試儀

型  號(hào)：X3PCST

品  牌：上海析譜

上海析譜薄膜固體測(cè)量儀X3PCST透光率測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

X3PCST透光率測(cè)試儀（薄膜固體測(cè)試儀）是專為薄膜、玻璃、珠寶、紡織、手機(jī)屏、液晶顯示屏等制造行業(yè)設(shè)計(jì)的光譜測(cè)試儀。該儀器可以對(duì)手機(jī)屏、液晶顯示屏進(jìn)行定波長測(cè)試和光譜掃描，是質(zhì)量監(jiān)測(cè)的檢測(cè)工具。

優(yōu)勢(shì)：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測(cè)試，方便快捷、測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。

專業(yè)測(cè)試固體樣品、規(guī)格 φ5.0mm -500*500mm  厚度：0.01-100mm固體、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構(gòu)件光學(xué)性能的測(cè)定等，儀器等級(jí)GB/T26798-2011 Ⅱ級(jí).

開機(jī)自校；聯(lián)PC操作端；軟件版本win10 光譜分析家。

優(yōu)勢(shì)：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測(cè)試，方便快捷、測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。

開機(jī)自校；聯(lián)PC操作端；軟件版本UV9.0 win10 64位。

上海析譜薄膜固體測(cè)量儀X3PCST透光率測(cè)試儀性能特點(diǎn)：

1、PCST薄膜固體測(cè)試儀，采用了全新的光學(xué)平臺(tái)，ARM芯片控制和處理數(shù)據(jù)，人機(jī)交互操作，儀器單機(jī)具有透射測(cè)試，吸光度測(cè)試。 

2、專業(yè)測(cè)試固體樣品、規(guī)格最小 φ1.0mm -500*500mm  厚度：0.01-100mm固體、護(hù)目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構(gòu)件，光學(xué)性能的測(cè)定等。

3、進(jìn)口環(huán)保型氘燈系統(tǒng)，有效減少您對(duì)臭氧的吸入；進(jìn)口OSRAM鎢燈座、OSRAM長壽命鎢燈。

4、插座式氘燈和鎢燈設(shè)計(jì)，能使您在換燈后免去光學(xué)調(diào)試的煩惱；

5、寬大的樣品臺(tái)，專業(yè)測(cè)試：特薄、特小、特厚、特大件！測(cè)試更方便、更準(zhǔn)確、更效率、不再需要任何薄膜夾具，

6、強(qiáng)大的存儲(chǔ)功能，能保存各種類型的數(shù)據(jù)；

薄膜固體測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：